高分子橋架發(fā)生故障時(shí)的判斷方法
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發(fā)布時(shí)間：
（1）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻，或芯與芯之間絕緣電阻低于100Ω時(shí)，為低電阻接地或短路故障。
（2）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻，或芯與芯之間絕緣電阻低于正常值很多，但高于100Ω時(shí)，為高電阻接地故障。
（3）當搖測電纜一芯或幾芯對地絕緣電阻較高或正常，應進(jìn)行導體連續性試驗，檢查南京高分子橋架是否有斷線(xiàn)，若有即為斷線(xiàn)故障。
（4）當搖測電纜有一芯或幾芯導體不連續，且經(jīng)電阻接地時(shí)，為斷線(xiàn)并接地故障。
（5）閃絡(luò )性故障多發(fā)生于預防性耐壓試驗，發(fā)生部位大多在電纜終端和中間接頭。閃絡(luò )有時(shí)會(huì )連續多次發(fā)生，每次間隔幾秒至幾分鐘。